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API點(diǎn)燈畫面檢測(cè)方案
API點(diǎn)燈畫面檢測(cè)方案
2020-06-14
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
匯川視覺(jué)基于顯示模組制程工藝，開發(fā)了適用于Cell、Open Cell、Module三工藝段的API點(diǎn)燈畫面檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)，用于模組制程中及出貨前的點(diǎn)燈測(cè)試，節(jié)省人力同時(shí)極大提升了產(chǎn)品出貨品質(zhì)，目前已大批量應(yīng)用于各個(gè)生產(chǎn)終端。
【檢測(cè)規(guī)格】
【方案優(yōu)勢(shì)】
1、定制化光學(xué)硬件，提供更高信噪比。
2、基于良品的深度學(xué)習(xí)模式，創(chuàng)造極致易用性。
【方案價(jià)值】
1.節(jié)省大量點(diǎn)燈復(fù)判人員，投資回收期小于18個(gè)月。
2.顯著提升品質(zhì)，對(duì)比人工dpppm降低60%以上。
3.易用性高，技術(shù)員掌握難度低，工廠可實(shí)現(xiàn)快速應(yīng)用。
匯川視覺(jué)基于顯示模組制程工藝，開發(fā)了適用于Cell、Open Cell、Module三工藝段的API點(diǎn)燈畫面檢測(cè)視覺(jué)系統(tǒng)，用于模組制程中及出貨前的點(diǎn)燈測(cè)試，節(jié)省人力同時(shí)極大提升了產(chǎn)品出貨品質(zhì)，目前已大批量應(yīng)用于各個(gè)生產(chǎn)終端。
【檢測(cè)規(guī)格】
| 檢測(cè)內(nèi)容 | 背光類缺陷 | 背光白點(diǎn)、背光異物、背光臟污、背光劃傷、漏光、亮度不均 | |
| Cell類缺陷 | 像素亮/暗點(diǎn)、異物、彩點(diǎn)、缺劃、黃白團(tuán)、紅藍(lán)斑、碎亮點(diǎn)、條紋、漏液、顯異 | ||
| 偏光片類缺陷 | 上下片異物、劃傷 | ||
| 貼合類缺陷 | 貼合異物、貼合氣泡、組裝偏位（邊框異色/缺失） | ||
| 其他 | 不顯、顯示異常、偏色、破片等 | ||
| 檢測(cè)精度 | 電性點(diǎn)缺陷：子像素級(jí) 異物點(diǎn)缺陷：0.1mm | 線缺陷：W>0.02mm，L>0.5mm； | |
| 兼容屏幕范圍 | 3-27寸，支持常規(guī)屏、異形屏、OLED屏檢測(cè) | ||
| 檢測(cè)畫面 | 黑、白、128灰、64灰、框、紅、綠、藍(lán)、灰階、串?dāng)_等 | ||
| 漏檢率 | <0.35%（漏檢率=漏檢數(shù)/投入總數(shù)*100%） | ||
| 過(guò)篩率 | <10% （過(guò)篩率=過(guò)篩數(shù)/投入總數(shù)*100%） | ||
| 檢測(cè)效率 | 8s/7畫面 | ||
| 換型時(shí)間 | 新型號(hào)產(chǎn)品：<1h； 舊產(chǎn)品型號(hào)：<0.5h | ||
【方案優(yōu)勢(shì)】
1、定制化光學(xué)硬件，提供更高信噪比。
| 一般相機(jī)效果   |
更高信噪比 |
定制相機(jī)效果   |
2、基于良品的深度學(xué)習(xí)模式，創(chuàng)造極致易用性。
【方案價(jià)值】
1.節(jié)省大量點(diǎn)燈復(fù)判人員，投資回收期小于18個(gè)月。
2.顯著提升品質(zhì)，對(duì)比人工dpppm降低60%以上。
3.易用性高，技術(shù)員掌握難度低，工廠可實(shí)現(xiàn)快速應(yīng)用。
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